近日，华硕针对旗下ROG系列笔记本电脑出现的系统卡顿及性能下降问题，正式启动了BIOS测试版更新程序。经过深入调查，该公司已于9月27日通过X平台（原Twitter）确认，已找到问题根源，并计划自10月初起陆续发布正式版固件修复方案。
此次更新主要针对特定配置的2023款Strix Scar 15（型号G533ZW）和2023款Zephyrus M16（型号GU604VI）机型。此前，大量用户持续数周反馈，这些机型在使用过程中出现全系统性卡顿、音频爆音以及输入延迟等问题，尤其在空闲或轻负载状态下，系统每隔30至60秒便会出现可复现的全局性卡顿现象。
华硕最初表示正在调查问题成因，如今已明确其工程团队“已定位导致卡顿和性能中断的具体问题”。据ROG北美官方发布的声明，公司已开始为受影响的产品型号发布测试版BIOS，相关文件将在“未来一周内”上线官方网站的支持页面。华硕强调，安装测试版BIOS不会影响产品的保修资格。
GitHub用户Zephkek发布的一份详细技术分析指出，问题根源在于BIOS层级的ACPI中断风暴以及独立显卡（dGPU）的电源循环管理不当。通过Windows性能追踪工具及LatencyMon日志分析发现，与ACPI.sys相关的DPC延迟显著升高，且某一CPU核心持续处于高负载状态。该缺陷似乎影响了自2021年至2024年间多个世代的ROG笔记本产品，包括高端型号如Scar系列和Zephyrus系列。
尽管华硕尚未披露问题的具体技术细节，但公司现已确认，已在测试版BIOS构建中部署了修复方案。华硕表示，预计从10月初开始，将逐步向其他受影响型号推送正式版固件更新。
华硕提醒用户，选择安装测试版BIOS前应事先备份系统设置，并仔细查阅相关更新日志。虽然公司保证安装测试固件不会影响保修权益，但测试版本仍可能存在风险，稳定性亦不如最终正式版本。
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